IEC 62951-6:2019
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 6: Méthode d’essai pour la résistance de couche des couches conductrices souples
L’IEC 62951-6:2019 spécifie les termes, ainsi que la méthode et le rapport d’essai de la résistance de couche d’une couche conductrice souple soumise à des essais de courbure et de pliage. Les méthodes de mesurage comprennent la méthode de la sonde 2 points, la méthode de la sonde 4 points et la méthode de Montgomery, qui peuvent être appliquées à un mesurage sur site ou hors site et aux mesurages de résistance de couche anisotrope.
Publication Number: 62951
Part Number: 6
Edition: 1.0
Language: fr
Circulation Date: 2019-05-06
ICS Codes: 31.080.99;
Standard Number: IEC 62951-6:2019