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IEC 60172:1966
Méthode d'essai pour l'évaluation de la stabilité thermique des fils émaillés par l'abaissement de la rigidité diélectrique entre les fils torsadésiec (not verified)
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IEC 60132-4:1966
Rotary wafer switches (low current rating). Part 4: Rotary wafer switches with central mounting; maximum 12 positions; maximum diameter 40 mmiec (not verified)
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IEC 60132-4:1966
Commutateurs rotatifs (à faible intensité nominale). Quatrième partie: Commutateurs rotatifs à fixation centrale; à 12 positions au maximum et de diamètre maximal 40 mmiec (not verified)
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IEC 60132-5:1966
Rotary wafer switches (low current rating). Part 5: Rotary wafer switches with two-hole mounting; maximum 26 positions; maximum diameter 60 mmiec (not verified)
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IEC 60132-5:1966
Commutateurs rotatifs (à faible intensité nominale). Cinquième partie: Commutateurs rotatifs à deux trous de fixation; à 26 positions au maximum et de diamètre maximal 60 mmiec (not verified)
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IEC 60147-0:1966
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 0: General and terminologyiec (not verified)
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IEC 60147-0:1966
Valeurs limites et caractéristiques essentielles des dispositifs à semiconducteurs et principes généraux des méthodes de mesure - Partie 0: Généralités et terminologieiec (not verified)
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IEC 60181B:1966
Second supplementiec (not verified)
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IEC 60181B:1966
Deuxième complémentiec (not verified)
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IEC 60191-1:1966
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1: Preparation of drawings of semiconductor devicesiec (not verified)